Krótkofalowa podczerwień (SWIR) to specjalnie zaprojektowana soczewka optyczna przeznaczona do wychwytywania krótkofalowego światła podczerwonego, które nie jest bezpośrednio dostrzegalne przez ludzkie oko. Pasmo to jest zwykle określane jako światło o długości fal w zakresie od 0,9 do 1,7 mikrona. Zasada działania krótkofalowej soczewki na podczerwień opiera się na właściwościach transmisyjnych materiału dla określonej długości fali światła, a przy pomocy specjalistycznych materiałów optycznych i technologii powlekania soczewka może sprawnie przewodzić krótkofalowe światło podczerwone, tłumiąc jednocześnie światło widzialne światło i inne niepożądane długości fal.
Jego główne cechy obejmują:
1. Wysoka transmitancja i selektywność widmowa:Soczewki SWIR wykorzystują specjalistyczne materiały optyczne i technologię powlekania, aby uzyskać wysoką przepuszczalność w zakresie krótkofalowej podczerwieni (0,9 do 1,7 mikrona) i posiadają selektywność widmową, ułatwiając identyfikację i przewodzenie określonych długości fal światła podczerwonego oraz hamowanie innych długości fal światła .
2. Odporność na korozję chemiczną i stabilność termiczna:Materiał i powłoka soczewki wykazują wyjątkową stabilność chemiczną i termiczną oraz mogą utrzymać parametry optyczne w ekstremalnych wahaniach temperatury i różnorodnych warunkach środowiskowych.
3. Wysoka rozdzielczość i niskie zniekształcenia:Soczewki SWIR charakteryzują się wysoką rozdzielczością, niskimi zniekształceniami i cechami optycznymi o szybkiej reakcji, spełniając wymagania obrazowania o wysokiej rozdzielczości.
Krótkofalowe soczewki na podczerwień są szeroko stosowane w inspekcji przemysłowej. Na przykład w procesie produkcji półprzewodników soczewki SWIR mogą wykrywać wady wewnątrz płytek krzemowych, które są trudne do wykrycia w świetle widzialnym. Technologia obrazowania w podczerwieni krótkofalowej może zwiększyć dokładność i efektywność kontroli płytek, zmniejszając w ten sposób koszty produkcji i poprawiając jakość produktu.
Krótkofalowe soczewki na podczerwień odgrywają kluczową rolę w kontroli płytek półprzewodnikowych. Ponieważ krótkofalowe światło podczerwone może przenikać przez krzem, cecha ta umożliwia krótkofalowym soczewkom na podczerwień wykrywanie defektów w płytkach krzemowych. Na przykład płytka może mieć pęknięcia spowodowane naprężeniami szczątkowymi podczas procesu produkcyjnego, a pęknięcia te, jeśli nie zostaną wykryte, będą miały bezpośredni wpływ na wydajność i koszt produkcji końcowego gotowego układu scalonego. Wykorzystując krótkofalowe soczewki na podczerwień, można skutecznie wykryć takie defekty, poprawiając w ten sposób wydajność produkcji i jakość produktu.
W praktycznych zastosowaniach krótkofalowe soczewki na podczerwień mogą dawać obrazy o wysokim kontraście, dzięki czemu nawet drobne defekty są wyraźnie widoczne. Zastosowanie tej technologii wykrywania nie tylko zwiększa dokładność wykrywania, ale także zmniejsza koszty i czas ręcznego wykrywania. Według raportu z badania rynku zapotrzebowanie na krótkofalowe soczewki podczerwieni na rynku wykrywania półprzewodników rośnie z roku na rok i oczekuje się, że w nadchodzących kilku latach utrzyma stabilną trajektorię wzrostu.
Czas publikacji: 18 listopada 2024 r