Krótkofalowa podczerwień (SWIR) to specjalnie zaprojektowana soczewka optyczna przeznaczona do wychwytywania krótkofalowego światła podczerwonego, które nie jest bezpośrednio postrzegane przez ludzkie oko. Pasmo to jest zazwyczaj definiowane jako światło o długości fali od 0,9 do 1,7 mikrona. Zasada działania soczewki krótkofalowej podczerwonej opiera się na właściwościach transmisyjnych materiału dla określonej długości fali światła. Dzięki zastosowaniu specjalistycznych materiałów optycznych i technologii powłok, soczewka może skutecznie przewodzić krótkofalowe światło podczerwone, jednocześnie tłumiąc światło widzialne i inne niepożądane długości fal.
Jego główne cechy obejmują:
1. Wysoka przepuszczalność i selektywność widmowa:Soczewki SWIR wykorzystują specjalistyczne materiały optyczne i technologię powlekania, co pozwala na uzyskanie wysokiej transmisji w paśmie podczerwieni o krótkiej długości fali (od 0,9 do 1,7 mikrona) i charakteryzuje się selektywnością widmową, umożliwiającą identyfikację i przewodzenie określonych długości fal światła podczerwonego oraz hamowanie innych długości fal światła.
2. Odporność na korozję chemiczną i stabilność termiczna:Materiał i powłoka soczewki charakteryzują się wyjątkową stabilnością chemiczną i termiczną oraz zachowują parametry optyczne przy ekstremalnych wahaniach temperatur i zróżnicowanych warunkach środowiskowych.
3. Wysoka rozdzielczość i niskie zniekształcenia:Obiektywy SWIR charakteryzują się wysoką rozdzielczością, niskimi zniekształceniami i szybką reakcją optyczną, spełniając tym samym wymagania obrazowania w wysokiej rozdzielczości.
Krótkofalowe soczewki podczerwone są szeroko stosowane w inspekcji przemysłowej. Na przykład, w procesie produkcji półprzewodników, soczewki SWIR mogą wykrywać wady wewnątrz płytek krzemowych, trudne do wykrycia w świetle widzialnym. Technologia obrazowania w podczerwieni krótkofalowej może zwiększyć dokładność i wydajność inspekcji płytek, obniżając tym samym koszty produkcji i poprawiając jakość produktu.
Soczewki podczerwieni krótkofalowej odgrywają kluczową rolę w inspekcji płytek półprzewodnikowych. Ponieważ światło podczerwone krótkofalowe może przenikać przez krzem, ta właściwość umożliwia soczewkom podczerwieni krótkofalowej wykrywanie defektów w płytkach krzemowych. Na przykład, płytka może mieć pęknięcia spowodowane naprężeniami szczątkowymi podczas procesu produkcyjnego, a te pęknięcia, jeśli nie zostaną wykryte, będą miały bezpośredni wpływ na wydajność i koszt produkcji gotowego układu scalonego. Dzięki wykorzystaniu soczewek podczerwieni krótkofalowej, takie defekty mogą być skutecznie wykrywane, co przekłada się na wzrost wydajności produkcji i jakości produktu.
W zastosowaniach praktycznych soczewki podczerwieni krótkofalowej mogą generować obrazy o wysokim kontraście, dzięki czemu nawet drobne defekty są wyraźnie widoczne. Zastosowanie tej technologii detekcji nie tylko zwiększa dokładność detekcji, ale także obniża koszty i czas detekcji ręcznej. Według raportu z badań rynku, popyt na soczewki podczerwieni krótkofalowej na rynku detekcji półprzewodników rośnie z roku na rok i oczekuje się, że utrzyma stabilną trajektorię wzrostu w ciągu najbliższych kilku lat.
Czas publikacji: 18-11-2024